利用反射镜跟踪悬浮纳米颗粒

科技
2022-07-01
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来源:University of Innsbruck

总结:

      迄今为止,悬浮纳米颗粒的传感受到位置测量精度的限制。现在,研究人员已经展示了一种新的光学干涉测量方法,其中粒子散射的光被反射镜反射。这为使用悬浮粒子作为传感器开辟了新的可能性,特别是在量子领域。

 

      悬浮纳米颗粒是一种很有前景的工具,用于传感生物、化学或机械产生的超微弱力,甚至是用于测试量子物理的基础。然而,此类应用需要精确的位置测量。奥地利Innsbruck大学实验物理系的研究人员现在展示了一种新技术,该技术可以提高亚微米悬浮物体位置检测的效率。Tracy Northup研究小组的博士生Lorenzo Dania说:“通常,我们用一种称为光学干涉术的技术来测量纳米颗粒的位置,其中纳米颗粒发出的部分光与参考激光发出的光进行比较。”。然而,激光束的形状与纳米颗粒发射的光模式(称为偶极辐射)大不相同这种形状差异限制了测量精度。

 

自干扰法

 

      TracyNorthup教授和她的团队演示了这项新技术,通过用镜子反射的粒子光代替激光束,解决了这一限制。这项技术建立在近年来由同样来自Innsbruck大学的RainerBlatt及其团队开发的钡离子追踪方法的基础上。去年,这两个团队的研究人员提议将这种方法扩展到纳米颗粒。现在,研究人员使用悬浮在电磁阱中的纳米颗粒,表明该方法优于其他最先进的检测技术。这一结果为使用悬浮粒子作为传感器——例如,测量微小的力——以及将粒子的运动带入量子力学所描述的领域开辟了新的可能性。

 

 

 

图:用于悬浮单个纳米颗粒的离子阱。插图:粒子与其镜像之间的光学干涉。

 

[1] Lorenzo Dania, Katharina Heidegger, Dmitry S. Bykov, Giovanni Cerchiari, Gabriel Araneda, Tracy E. Northup. Position Measurement of a Levitated Nanoparticle via Interference with Its Mirror Image. Physical Review Letters, 2022; 129 (1) DOI: 10.1103/PhysRevLett.129.013601

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